GB/T 18290.4-2000無焊連接第4部分：不可接觸無焊絕緣位移連接一般要求、試驗方法和使用導則

TcS.29.120.20L中華人民共和國國家標準GB/T18290.4—2000idtIEC60352-4：1994無焊連接第4部分：不可接觸無焊絕緣位移連接一般要求、試驗方法和使用導則SolderlessconnectionsPartA:Solderlessnon-accessibleinsulationdisplacementconnectionsGeneralreguirements.testmethodsandpracticalguidance2000-12-28發布2001-07-01實施國家質量技術監督局發布

GB/T18290.4-2000目次前言IEC前言IEC引言第一篇總范圍2目的3引用標準4定義5型號第二篇加工質量19000600600000000600工具……絕緣位移接端(ID接端)9導線10不可接觸絕緣位移連接(不可接觸ID連接）第三篇驗11試驗…………12型式試驗…13試驗一覽表第四篇使用導則載流容量14工具資料1716接端資料18導線資料1818連接資料10

GB/T18290.4-2000前言本標準等同采用IEC60352-4:1994《無焊連接：第4部分：不可接觸無焊絕緣位移連接一般要求、試驗方法和使用導則).本標準由中華人民共和國信息產業部提出本標準由全國電子設備用機電元件標準化技術委員會歸口本標準由信息產業部電子工業標準化研究所負責起草。本標準主要起草人：余玉芳、汪其龍。本標準為首次發布。

GB/T18290.4-2000IEC前言1）IEC(國際電工委員會)是由各國家電工委員會（IEC國家委員會)組成的世界性標準化組織。1EC的目的是促進電工電子領域標準化問題的國際合作。為此目的，除其他活動外.IEC發布國際標準國際標準的制定由技術委員會承擔.對所涉及內容關切的任何IEC國家委員會均可參加國際標準的制定工作。與IC有聯系的任何國際，政府和非官方組織也可以參加國際標準的制定。IEC與國際標準化組織(ISO)根據兩組織間協商確定的條件保持密切的合作關系，2）IEC在技術問題上的正式決議或協議，是由對這些問題特別關切的國家委員會參加的技術委員會制定的·對涉及的問題盡可能地代表了國際上的一致意見。3）這些決議或協議以標準.技術報告或導則的形式發布，以推薦的形式供國際上使用，并在此意義上，為各國家委員會認可。4）為了促進國際上的統一,各IEC國家委員會有責任使其國家和地區標準盡可能采用IEC標準IC標準與相應國家或地區標準之間的任何差異應在國家或地區標準中指明。國際標準IEC60352-4由IEC/TC48(電子設備用機電元件和機械結構）制定的本標準文本以下列文件為依據：DIS表決報告48B（C.O.）25148B（C.0.）256表決批準本標準的詳細資料可在上表列出的表決報告中查閱IEC60352在總標題《無焊連接》之下由下列四部分組成：第1部分：無焊繞接連接一般要求、試驗方法和使用導則(1983)第2部分：無焊壓接連接-般要求、試驗方法和使用導則(1990)；第3部分：可接觸無焊絕緣位移連接一般要求、試驗方法和使用導則(1993)-第4部分：不可接觸無焊絕緣位移連接一般要求、試驗方法和使用導則(1994)

GB/T18290.4-2000IEC引言在無焊絕緣位移連接方面由兩部分標準組成：第3部分：可接觸無焊絕緣位移連接一般要求、試驗方法和使用導則第4部分：不可接觸無焊絕緣位移連接一般要求、試驗方法和使用導則本標準規定了要求、試驗方法和使用導則的資料本標準規定了兩個試驗一覽表：-基本試驗一覽表：適用于符合第二篇中全部要求的絕緣位移連接.這些要求是基于這種連接的成功使用的經驗提出的。-完全試驗一覽表：適用于不完全符合第二篇中全部要求的絕緣位移連接，例如：在第二篇中沒有規定在制造時所采用的材料或表面涂覆層。使用這兩種試驗一覽表的原則是：在考慮到成本和時間時,對于確立的不可接觸無焊絕緣位移連接的有效性能驗證,采用有限的基本試驗一覽表：對于要求在更大范圍內的性能驗證時,采用擴展的完全試驗一覽表。注：在本標準中·術語“絕緣位移“縮略為"ID".例如，"ID連接”."ID接端”可接觸ID連接不可接觸ID連接圖1可接觸和不可接觸絕緣位移連接舉例

中華人民共和國國家標準無連第4部分：不可接觸無焊絕緣位移連接-般要求、試驗方法和使用導則GB/T18290.4-2000idtIEc60352-4:1994SolderlessconnectionsPart4:Solderlessnon-accessibleinsulationdisplacementconnectionsGeneralrequirements.testmethodsandpracticalguidance第一篇總1范圍本標準適用于按第三篇進行試驗和測量時是不可接觸的ID連接，而且這種連接是：設計合適的ID接端；具具有實心圓導體(標稱直徑為0.25mm至3.6mm)的導線;具有絞合導體(截面為0.05mm2至10mm2)的導線。這種連接用于通信設備和采用類似技術的電子設備中。另外，為了在規定的環境條件下獲得穩定的電氣連接·除了試驗程序外.本標準還規定了從工業使用實際出發的一些經驗數據資料。2目的本標準的目的是：確定不可接觸I連接在規定的機械、電氣和大氣條件下的適用性-當用來連接的工具的設計或加工不同時，提供一種試驗結果可比的方法。在使用中ID接端有不同的結構和材料。對此·僅規定了接端的基本參數，同時所有細則方面規定了導線和完整連接的特性要求。3引用標準下列標準所包含的條文，通過在本標準中引用而構成為本標準的條文。本標準出版時.所示版本均為有效。所有標準都會被修訂.使用本標準的各方應探討使用下列標準最新版本的可能性。GB/T4210—1984電子設備用機電元件名詞術語(eqvIEC60050-581:1978)GB/T5095.1—1997電子設備用機電元件基本試驗規程及測量方法第1部分:總則（idtIEC605