標準解讀
GB/T 42968.5-2025《集成電路 電磁抗擾度測量 第5部分:工作臺法拉第籠法》是針對集成電路在電磁環(huán)境下的性能測試而設(shè)立的標準之一。該標準具體規(guī)定了使用工作臺法拉第籠方法來評估集成電路對于外部電磁干擾的抵抗能力的技術(shù)要求和試驗方法。
根據(jù)此標準,首先明確了適用范圍,包括但不限于各種類型的集成電路產(chǎn)品,在特定條件下進行電磁抗擾度測試時可參考本文件。其次,詳細描述了測試所需的工作臺法拉第籠的設(shè)計原則、材料選擇及構(gòu)造要求等,確保其能夠有效屏蔽外界電磁場,同時不影響被測樣品正常工作的環(huán)境條件。此外,還對測試過程中的信號源配置、干擾源設(shè)置以及監(jiān)測設(shè)備的選擇等方面做出了具體指導(dǎo),以保證測試結(jié)果的一致性和準確性。
標準中也強調(diào)了如何正確安裝待測集成電路于法拉第籠內(nèi),并給出了一系列操作步驟,從準備工作到實際測量直至數(shù)據(jù)記錄與分析,均有著詳盡的規(guī)定。通過這些標準化流程,可以有效地模擬出集成電路在實際應(yīng)用中可能遇到的各種復(fù)雜電磁環(huán)境,從而對其抗擾性能做出科學合理的評價。
標準還包括了對測試結(jié)果處理的方法說明,比如如何識別異常數(shù)據(jù)點、采用何種統(tǒng)計學手段來進行數(shù)據(jù)分析等,旨在為用戶提供一套完整的解決方案,幫助他們更好地理解和掌握集成電路產(chǎn)品的電磁兼容性特點。
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....
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2025-12-02 頒布
- 2025-12-02 實施
文檔簡介
ICS31200
CCSL.56
中華人民共和國國家標準
GB/T429685—2025
.
集成電路電磁抗擾度測量
第5部分工作臺法拉第籠法
:
Integratedcircuits—Measurementofelectromagneticimmunity—
Part5WorkbenchFaradacaemethod
:yg
2025-12-02發(fā)布2025-12-02實施
國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布
國家標準化管理委員會
GB/T429685—2025
.
目次
前言
…………………………Ⅲ
引言
…………………………Ⅳ
范圍
1………………………1
規(guī)范性引用文件
2…………………………1
術(shù)語和定義
3………………1
通則
4………………………1
測量原理
4.1……………1
基本試驗布置
4.2………………………2
工作臺方法
4.3…………………………2
試驗條件
5…………………2
試驗設(shè)備
6…………………3
試驗布置
7…………………3
通則
7.1…………………3
屏蔽和環(huán)境場強
7.2……………………3
工作臺布置
7.3…………………………3
試驗板的連接
7.4………………………4
共模點
7.5………………4
工作臺法拉第籠具體實現(xiàn)
7.6———……………………6
試驗板
7.7………………6
試驗程序
8…………………6
通則
8.1…………………6
工作臺法拉第籠的試驗要求
8.2………………………7
試驗報告
9…………………7
附錄資料性共模阻抗
A()………………8
附錄資料性工作臺法拉第籠法的原理
B()……………9
附錄規(guī)范性工作臺法拉第籠的詳細規(guī)范
C()(WBFC)………………10
機械參數(shù)
C.1……………10
網(wǎng)絡(luò)校準
C.2150Ω……………………11
附錄資料性射頻抗擾度等級
D()………………………13
概述
D.1…………………13
抗擾度電平關(guān)系
D.2……………………13
參考文獻
……………………15
Ⅰ
GB/T429685—2025
.
前言
本文件按照標準化工作導(dǎo)則第部分標準化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則的規(guī)定
GB/T1.1—2020《1:》
起草
。
本文件是集成電路電磁抗擾度測量的第部分已經(jīng)發(fā)布了以下
GB/T42968《》5。GB/T42968
部分
:
第部分通用條件和定義
———1:;
第部分輻射抗擾度測量小室和寬帶小室法
———2:TEMTEM;
第部分大電流注入法
———3:(BCI);
第部分射頻功率直接注入法
———4:;
第部分工作臺法拉第籠法
———5:;
第部分輻射抗擾度測量帶狀線法
———8:IC;
第部分輻射抗擾度測量表面掃描法
———9:。
請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機構(gòu)不承擔識別專利的責任
。。
本文件由中華人民共和國工業(yè)和信息化部提出
。
本文件由全國集成電路標準化技術(shù)委員會歸口
(SAC/TC599)。
本文件起草單位中國電子技術(shù)標準化研究院天津先進技術(shù)研究院北京智芯微電子科技有限公
:、、
司工業(yè)和信息化部電子第五研究所廈門海諾達科學儀器有限公司中山大學廣州市誠臻電子科技有
、、、、
限公司華東師范大學北京國家新能源汽車技術(shù)創(chuàng)新中心有限公司中國汽車工程研究院股份有限公
、、、
司中國信息通信研究院重慶郵電大學中國計量大學中國科學院空間應(yīng)用工程與技術(shù)中心中國合
、、、、、
格評定國家認可中心東莞職業(yè)技術(shù)學院北京星河億海科技有限公司西安優(yōu)來測科技有限公司威凱
、、、、
檢測技術(shù)有限公司中家院北京檢測認證有限公司
、()。
本文件主要起草人崔強孫美秋廉鵬飛吳建飛方文嘯邵鄂付君趙揚梁吉明李楠李齊
:、、、、、、、、、、、
譚澤強菅端端王紫任張紅升李燕孫莉劉佳鄭曉東熊偉杰劉易勇鄭上上李子秋
、、、、、、、、、、、。
Ⅲ
GB/T429685—2025
.
引言
為規(guī)范集成電路電磁抗擾度測量以及為集成電路制造商和檢測機構(gòu)提供不同的電磁抗擾度測量
,
方法集成電路電磁抗擾度測量規(guī)定了集成電路電磁抗擾度測量的通用條件定義和
,GB/T42968《》、
不同測量方法的試驗程序和試驗要求擬由個部分構(gòu)成
,7。
第部分通用條件和定義目的在于規(guī)定集成電路電磁抗擾度測量的通用條件和定義
———1:。。
第部分輻射抗擾度測量小室和寬帶小室法目的在于規(guī)定小室和寬
———2:TEMTEM。TEM
帶小室法的試驗程序和試驗要求
TEM。
第部分大電流注入法目的在于規(guī)定大電流注入法的試驗程序和試驗要求
———3:(BCI)。。
第部分射頻功率直接注入法目的在于規(guī)定射頻功率直接注入法的試驗程序和試驗要求
———4:。。
第部分工作臺法拉第籠法目的在于規(guī)定工作臺法拉第籠法的試驗程序和試驗要求
———5:。。
第部分輻射抗擾度測量帶狀線法目的在于規(guī)定帶狀線法的試驗程序和試驗要求
———8:IC。IC。
第部分輻射抗擾度測量表面掃描法目的在于規(guī)定表面掃描法的試驗程序和試驗要求
———9:。。
Ⅳ
GB/T429685—2025
.
集成電路電磁抗擾度測量
第5部分工作臺法拉第籠法
:
1范圍
本文件描述了一種用于量化安裝在標準試驗板或其最終應(yīng)用的印制電路板上的集成電路
(PCB)
對電磁傳導(dǎo)騷擾的射頻抗擾度測量方法
(IC)。
本文件適用于在物理尺寸小的試驗板上使用的能執(zhí)行獨立功能的
“”IC。
2規(guī)范性引用文件
下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款其中注日期的引用文
。,
件僅該日期對應(yīng)的版本適用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于
,;,()
本文件
。
電工術(shù)語電路理論
GB/T2900.74
電工術(shù)語電磁兼容
GB/T4365
電磁兼容試驗和測量技術(shù)射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度
GB/T17626.6
集成電路電磁抗擾度測量第部分通用條件和定義
GB/T42968.11:
3術(shù)語和定義
和界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件
GB/T42968.1、GB/T2900.74GB/T4365。
31
.
共模點common-modepoint
電路或上的節(jié)點在該節(jié)點一個點作為信號端子第二個端子是信號的參考形成二端子端
PCB,,,
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