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文檔簡介
面向儲層預(yù)測的測井曲線環(huán)境校正方法研究面向儲層預(yù)測環(huán)境校正與常規(guī)測井環(huán)境校正的區(qū)別
測井資料往往存在失真問題原因:擴(kuò)徑,泥漿侵入,泥巖蝕變、方法限制(橫波速度)常規(guī)環(huán)境校正不能滿足要求常規(guī)環(huán)境校正能滿足測井解釋要求,但往往忽略:泥巖段的校正-影響砂、泥界面反射系數(shù)彈性參數(shù)(聲波、密度)參數(shù)校正-地震的基礎(chǔ)
面向儲層預(yù)測環(huán)境校正評估三條標(biāo)準(zhǔn):符合巖石物理的一般規(guī)律(巖石物理模型診斷)彈性參數(shù)之間的規(guī)律性合成記錄與井旁地震道的動力學(xué)特征要一致?;谝陨蠁栴},為了消除測井過程中的環(huán)境影響,得到反映原狀地層的真實(shí)測井彈性曲線以及砂泥巖界面,需要進(jìn)行面向儲層預(yù)測的測井曲線環(huán)境校正工作。紅框中藍(lán)色曲線為校正前的DEN,紅色曲線為校正后的DEN井眼校正實(shí)例異常點(diǎn)純砂巖理論線純泥巖理論線異常點(diǎn)已歸位純砂巖理論線純泥巖理論線泥漿侵入校正實(shí)例InvadedZone
Density,Vp,andVsbeforeandaftercorrection
校正前校正后泥漿侵入掩蓋了氣層的測井響應(yīng),從而與下面的油層特征相近,侵入校正后,還原了真實(shí)氣層的低密度以及更低縱橫波速度比的特征。校正前
SEISMICSYNTHETICOFFSETSYNTHETIC校正后
SEISMICSYNTHETICOFFSETSYNTHETIC井震匹配檢驗(yàn)井資料保真性及校正效果(面向儲層預(yù)測)校正前后合成地震記錄與井旁地震道的相位與能量的對應(yīng)關(guān)系對比一、針對井眼的校正1.聲波曲線的校正a.砂巖層聲波時差校正方法采用深度與聲波時差的交會關(guān)系校正砂巖層擴(kuò)徑井段的聲波時差b.圍巖地層聲波時差校正方法如果圍巖地層滿足Faust公式的適用條件,在聲波時差曲線嚴(yán)重失真的情況下,利用Faust公式重構(gòu)聲波時差曲線:V=KHCRtd式中,K,C,d為與地域有關(guān)的經(jīng)驗(yàn)系數(shù);H為深度;V為聲波速度;
Rt為地層真電阻率。一、針對井眼的校正1.聲波曲線的校正上式中K,C,d參數(shù)的確定方法為:(1)選擇同一沉積環(huán)境下的井段,利用鄰井同一地層中質(zhì)量較好資料的電阻率與聲波時差曲線,通過Faust公式來求取(2)如果本井其它相同類型井段中有質(zhì)量好的資料,可以利用這些資料中的電阻率與聲波時差曲線通過Faust公式來求取以上公式簡化后變換為常用的表達(dá)式如下:
VP_faust=(K*(Depth*RT)0.1667)/3.281DT_faust=106/VP_f
其中,K是地層參數(shù),一般在2000左右c.利用多曲線擬合校正失真聲波曲線常規(guī)曲線之間都是具備一定的相關(guān)性的,可以利用相同類型質(zhì)量較好井段的聲波與自然伽馬、深電阻率、中子等曲線進(jìn)行多元擬合,得到關(guān)系來對失真井段的聲波時差進(jìn)行校正。DT=f(GR,RT,CNL…)VSP資料可以提供準(zhǔn)確的時—深關(guān)系,因此可以用VSP的時-深關(guān)系對聲波曲線進(jìn)行校正。校正方法是用VSP標(biāo)定的主要目的層的時-深關(guān)系作為合成記錄上同一層的時-深關(guān)系,從井旁地震道中提取目的層子波,經(jīng)過不同時窗反復(fù)提取,使子波接近零相位,這時的合成記錄的主要波組與地面地震的主要波組接近,但有小時差。進(jìn)一步以VSP標(biāo)定的主要目的層的時-深關(guān)系點(diǎn)作為合成記錄的校正點(diǎn),求得相對時差,然后用時間漂移法,將合成記錄上的波組時間與井旁地震剖面波組時間相對應(yīng),這樣就得到了校正的聲波曲線。校正后的聲波曲線的層速度或?qū)拥钠骄俣然痉从潮編r性層段的速度特征。d.利用VSP資料校正VP一、針對井眼的校正1.聲波曲線的校正VSP提取的大層層速度精度較高,聲波速度具有很強(qiáng)的垂向分辨能力,用VSP提取的時深關(guān)系對聲波進(jìn)行校正后,有利于研究薄儲層的巖性物性。對兩者進(jìn)行綜合研究分析,能提高地層巖性解釋的精度。一、針對井眼的校正1.聲波曲線的校正e.基于井徑擴(kuò)徑量的聲波時差曲線校正DTc=DT-Δ0ds≤5cm(1.524in)50*(ds-5)/55cm<ds≤10cm(1.524~3.05in)
Δ=50+50*(ds-10)/510cm<ds≤30cm(3.05~9.146in)
250
ds>30cm(>9.146in)DT——校正前聲波時差(米制)DTc——校正后聲波時差(米制)ds=CAL-BS(鉆徑)代表擴(kuò)徑量當(dāng)ds<0時,不做井徑校正
2.密度測井曲線的環(huán)境校正:a.利用校正后的VP,通過Gardner公式,來校正失真密度:DEN_gardner=a*VP2+b*VP+c…………….(1)
其中,a,b和c為與巖性有關(guān)的可調(diào)系數(shù)推薦一、針對井眼的校正
2.密度測井曲線的環(huán)境校正:a.利用校正后的VP,通過Gardner公式,來校正失真密度:DEN_gardner=d*Vpf…………….(2)
其中,d和f為與巖性有關(guān)的可調(diào)系數(shù)一、針對井眼的校正b.利用多曲線擬合技術(shù)來校正密度:利用相同類型質(zhì)量較好井段的密度與自然伽馬、深電阻率、中子、聲波等曲線進(jìn)行多元擬合,得到關(guān)系來對失真井段的聲波時差進(jìn)行校正。DEN=f(GR,RT,CNL,DT…)一、針對井眼的校正
2.密度測井曲線的環(huán)境校正:c.利用測井公司校正圖版來校正密度曲線:左圖中,補(bǔ)償?shù)貙用芏染畯叫U龍D版可以校正的最大井徑是15英寸,圖版中,縱坐標(biāo)是密度校正量,橫坐標(biāo)是井徑。例如,dh=12in,DEN=2.2g/cm3,井中充滿泥漿,從圖版可以查得校正量為0.02g/cm3,所以校正后的密度值為:DENc=2.2+0.02=2.22g/cm3右圖中,巖性密度井徑校正圖版可以校正的最大井徑是25英寸,圖版中,縱坐標(biāo)是密度校正量,橫坐標(biāo)是井徑值dh與鉆頭直徑(8in)的差值和密度測井讀數(shù)DEN與泥漿密度ρm差值的乘積。例如,dh=325mm,DEN=2.45g/cm3,ρm=1.05g/cm3,(dh-200)*(DEN-ρm)=175,所以校正量為0.014g/cm3,校正后的密度值DENc=2.45+0.014=2.464g/cm3二、針對侵入的校正在鹽水泥漿、氣層和滲透性較好的地層中,會產(chǎn)生較深的泥漿侵入帶,它對測井曲線會產(chǎn)生比較嚴(yán)重的影響,尤其是視電阻率曲線。這時,想依據(jù)電阻率來校正速度和密度曲線,需要求取較準(zhǔn)確的地層真電阻率(Rt)。1.BatemanR.M和KonenC.E法a.對泥漿低侵(Rt>Rxo)地層當(dāng)(Rlld-Rlls)/Rlls>0.15時,用下式計(jì)算真電阻率Rt:侵入帶直徑Di:Di=223(Jd+0.17)2.267Jd=(Rt-Rlld)/(Rt-Rxo)當(dāng)(Rlld-Rlls)/Rlls≤0.15時,用Rt=1.1*Rlld近似求出Rt此外,當(dāng)(Rlld-Rlls)/Rlls≤0且(Rlld-Rxo)/Rxo>0或者(Rlld-Rlls)/Rlls≤0且(Rlld-Rxo)/Rxo<0時,不做校正,即Rt=Rlld二、針對侵入的校正b.淡水泥漿往往高侵(Rxo>Rt)
設(shè)α=(Rlls-Rlld)/(Rxo-Rlld)Jd=0.5981*α+0.0869Rt=(Rlld-Jd*Rxo)/(1-Jd)侵入帶直徑Di=12.727*101.208*αc.當(dāng)無沖洗帶測井時低侵:Rt=1.7*Rlld-0.7*Rlls高侵:Rt=2.4*Rlld-1.4*Rlls特別,當(dāng)Rlld/Rxo≥3時,此Rt/Rlld與圖版法相對誤差±10%2.GeorgeDR.和AsquithB.法Rt≈(Rlld/Rlls)0.1*(Rlld-0.29*Rxo)/0.713.用幾何因子理論與數(shù)值逼近法進(jìn)行泥漿侵入校正。
這種方法是根據(jù)深淺側(cè)向測井在侵入帶的近似幾何因子,采用計(jì)算機(jī)迭代逼近方法來對深淺側(cè)向測井進(jìn)行校正,求出地層真電阻率Rt和沖洗帶電阻率Rxo。4.時間推移法。用同一井段的泥漿侵入前、后測量的深感應(yīng)和深側(cè)向視電阻率曲線,經(jīng)過對比和數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì),繪制單井泥漿侵入校正的經(jīng)驗(yàn)圖版,由此得出經(jīng)驗(yàn)校正公式,例如:Rild1=1.347(Rild2)1.062
Rlld1=0.659(Rlld2)1.187
式中,下標(biāo)為1的曲線為侵入前,下標(biāo)為2的曲線為侵入后電阻率三、
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