DB34T5480-2026檢驗檢測機構(gòu)設(shè)備期間核查技術(shù)規(guī)范

34TechnicalspecificationforintermediatecheckofequipmentoftestinginstitutionsI 2 24.4核查方法選擇依據(jù) 2 3 3 3 3 4 4 4 4 5 6請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機構(gòu)不承擔(dān)識別專利的責(zé)任。程學(xué)院、方圓標(biāo)志認證集團安徽有限公司、安徽省1檢驗檢測機構(gòu)設(shè)備期間核查技術(shù)規(guī)范本文件規(guī)定了檢驗檢測機構(gòu)設(shè)備期間核查的策劃、實施、GB/T27025檢測和校準(zhǔn)實驗室能力的通用3.1為保持對設(shè)備性能的信心，在兩次檢定/校準(zhǔn)之間進行的示值誤差、穩(wěn)定性、重復(fù)性等方面的核查3.24期間核查策劃a)檢驗檢測方法對期間核查有明確規(guī)定的或b)對測量結(jié)果質(zhì)量有重要影響的或準(zhǔn)確度要求較高的；d)使用頻率高、攜帶到客戶現(xiàn)場或脫離檢驗檢測機構(gòu)控制的；f)測量結(jié)果波動較大、檢定/校準(zhǔn)結(jié)果臨近最大允許誤差或使用壽命臨近到期的；g)使用中易受損、數(shù)據(jù)易變或有可疑現(xiàn)象發(fā)生的；2h)穩(wěn)定性較差的設(shè)備；4.2核查方案a)核查對象（測量設(shè)備或標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)h)記錄信息、記錄形式；4.3.1檢驗檢測機構(gòu)應(yīng)根據(jù)核查方案制定實施計劃，內(nèi)容包括但不限于：核查人員、核查方法和核查4.3.2計劃應(yīng)動態(tài)更新，結(jié)合設(shè)備使用頻率、歷史數(shù)據(jù)、環(huán)境變化等因素進行調(diào)整。4,4核查方法選擇依據(jù)與比對設(shè)備間隔周期送檢，確保其中至少有一臺設(shè)備完認后，滿足檢定/校準(zhǔn)需求。該方法需要一個短時間內(nèi)相對穩(wěn)定的被測對象作為核查標(biāo)準(zhǔn)，并h)對測量不確定度缺乏評定信息，但用于測量的標(biāo)準(zhǔn)方法提供了可靠的重復(fù)性標(biāo)準(zhǔn)差和復(fù)現(xiàn)性35.1.1.2應(yīng)具有良好的穩(wěn)定性。5.1.1.3可提供對上一次核查條件復(fù)現(xiàn)的指示。5.1.1.4應(yīng)使用不確定度優(yōu)于待核查設(shè)備或與5.1.2.1應(yīng)妥善使用、存儲、清潔、維護和保養(yǎng)，保持其量值穩(wěn)定。5.1.2.2存儲的環(huán)境條件宜優(yōu)于5.1.2.3標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)應(yīng)在有效期內(nèi)使用并滿足存儲環(huán)境要求。宜使用同一5.1.2.4資源允許時，應(yīng)避免核查標(biāo)準(zhǔn)用于與期間核查無關(guān)的其它活動。若對核查標(biāo)準(zhǔn)的穩(wěn)定性及核b)檢定周期或復(fù)校時間間隔；5.2.2列入期間核查的設(shè)備，應(yīng)至c)檢驗檢測時發(fā)現(xiàn)所測數(shù)據(jù)可疑，對設(shè)備的準(zhǔn)確性、穩(wěn)定性提出質(zhì)疑；d)因錯誤操作、過載、工作中突然斷電、死機等非預(yù)期使用；5.3.1.1根據(jù)檢驗檢測需求選擇核查參數(shù)和范圍，應(yīng)對設(shè)備關(guān)a)檢驗檢測方法對期間核查有明確要求的參數(shù)和范圍；b)使用最頻繁的參數(shù)和范圍；4d)對于新購設(shè)備，宜選擇設(shè)備的基本參數(shù)和基本量程。5.3.2核查點5.3.2.2有基本量程的選擇基本量程點；無基本量程的，應(yīng)選擇最具代表性或最不穩(wěn)定、風(fēng)險較高的6.2標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)期間核查方法穩(wěn)定特性、使用頻率、儲存條件變化、測量結(jié)果可信度等，按6.2.2中核查方法對其特性量值的穩(wěn)定性7.1期間核查結(jié)果符合要求，設(shè)備可繼續(xù)使7.2期間核查結(jié)果不符合要求，應(yīng)立即停止使用，加貼標(biāo)識并查找原因，必要時進行維修或更換，待功能恢復(fù)后重新檢定/校準(zhǔn)，確認合格后方可恢復(fù)使用，同時應(yīng)對之前涉及的檢驗檢測報告進行風(fēng)險評7.3期間核查結(jié)果有風(fēng)險趨勢（如核查結(jié)果接近最大允許誤差），應(yīng)查找潛在的風(fēng)險原因，并加大核56法和判定原則進行核查；設(shè)備說明書沒有要求，可依據(jù)檢驗檢測方法或設(shè)備檢定/校準(zhǔn)所依據(jù)檢定規(guī)程A.2標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)核查法A.2.1檢驗檢測機構(gòu)具有或可獲得能溯源到國際單位（SI）的有證標(biāo)A.2.2當(dāng)滿足公式（A.1）時，待核查設(shè)備為狀態(tài)有效。y0——標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的定值；MPE——檢驗檢測方法、檢定規(guī)程/校準(zhǔn)規(guī)范中規(guī)定的待核查設(shè)備在核查點的最大允許誤差。A.3傳遞比較法A.3.1對一些有等級區(qū)分的待核查設(shè)備，例如：量塊、天平、砝碼、壓力表、數(shù)字指示秤鉑電阻溫度計等，可用待核查設(shè)備和高等級設(shè)備對核查標(biāo)準(zhǔn)進行測量。滿足公y——用待核查設(shè)備對核查標(biāo)準(zhǔn)進行測量，得到的測量結(jié)果；y0——用高等級設(shè)備對核查標(biāo)準(zhǔn)進行測量，得到的測量結(jié)果；A.3.2當(dāng)U0≤,可忽略U0影響，滿足公式|y__y0|<U時，則待核查設(shè)備為狀態(tài)有效。A.4.1兩套比較法7y1——用待核查設(shè)備對核查標(biāo)準(zhǔn)進行測量，得到的測量結(jié)果；y2——用剛檢定/校準(zhǔn)確認后的同等級設(shè)備對核查標(biāo)準(zhǔn)進行測量，得到的測U2——用剛檢定/校準(zhǔn)確認后的同等級設(shè)備對核可用待核查設(shè)備和同等級設(shè)備對核查標(biāo)準(zhǔn)進行測量。滿足公式（y1——用待核查設(shè)備對核查標(biāo)準(zhǔn)進行測量，得到的測量結(jié)果；——所有參與比對的同等級設(shè)備對核查標(biāo)準(zhǔn)進