GB/T 5201-2012帶電粒子半導體探測器測量方法

ICS27120

F88.

中華人民共和國國家標準

GB/T5201—2012

代替

GB/T5201—1994

帶電粒子半導體探測器測量方法

Testproceduresforsemiconductorchargedparticledetectors

(IEC60333:1993Nuclearinstrumentation—Semiconductorchargedparticle

detectors—Testprocedures,NEQ)

2012-06-29發布2012-11-01實施

中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局發布

中國國家標準化管理委員會

GB/T5201—2012

前言

本標準按照給出的規則起草

GB/T1.1—2009。

本標準代替帶電粒子半導體探測器測試方法本標準與

GB/T5201—1994《》,GB/T5201—1994

以下簡稱原標準相比主要技術變化如下

(),:

增加了前言

———;

增加了第章規范性引用文件其他章的編號依次后推

———2“”,;

將原標準術語符號改為第章術語和定義并完全引用不再另行

———“、”3“”,GB/T4960.6—2008,

編寫

;

刪除了原標準符號部分在文中用到符號的地方予以說明

———2.2“”,;

增加了測試的參考條件或標準試驗條件代替原標準

———4.1“”3.1;

將原標準和合并為刪除了原標準

———3.33.44.3;3.7;

電壓電流特性特性增加了反向特性測試

———5.1“-(V-I)”V-I;

將原標準噪聲測量前的懸置段改為測量方法和測量系統其他節編號依次

———4.3“”5.3.1“”,

后推

;

將原標準探測器噪聲隨放大器時間常數的變化增加新內容后改為

———4.3.6“”,5.3.7;

電荷收集時間增加了對快慢探測器的區分標準

———5.4.2“”“”、“”;

第章環境試驗完全引用不再另行編寫

———7“”GB/T10263—2006,。

本標準使用重新起草法參考核儀器半導體帶電粒子探測器試驗程序編制

IEC60333:1993《》,

與的一致性程度為非等效

IEC60333:1993。

本標準由全國核儀器儀表標準化技術委員會提出并歸口

(SAC/TC30)。

本標準起草單位中核北京核儀器廠

:()。

本標準起草人李志勇王軍

:、。

Ⅰ

GB/T5201—2012

帶電粒子半導體探測器測量方法

1范圍

本標準規定了帶電粒子半導體探測器的電特性和核輻射性能的測量方法以及某些特殊環境的試驗

方法

。

本標準適用于帶電粒子部分耗盡層的半導體探測器

。

全耗盡型半導體探測器的測量可參照本標準執行

。

2規范性引用文件

下列文件對于本文件的應用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

核科學技術術語第部分核儀器儀表

GB/T4960.6—20086:

核輻射探測器環境條件與試驗方法

GB/T10263—2006

金硅面壘型探測器

GB/T13178—2008

3術語和定義

界定的術語和定義適用于本文件

GB/T4960.6—2008。

4一般要求

41測量應在參考條件或標準試驗條件見表下進行

.(1)。

表1參考條件或標準試驗條件

項目參考條件標準試驗條件

環境溫度

20℃18℃~22℃

相對濕度

65%50%~75%

大氣壓強

101.3kPa86kPa~106kPa

交流供電電壓UaU

N(1±1.0%)N

交流供電頻率b

50Hz(1±1%)×50Hz

交流供電波形正弦波波形總畸變﹤

5%

直流供電電壓額定值

±1%

環境γ輻射空氣吸收劑量率

()0.1μGy/h<0.25μGy/h

外磁場干擾可忽略