GB/T 17723-1999黃金制品鍍層成分的X射線能譜測量方法

TcS.37.020N33中華人民共和國國家標準GB/T17723—1999黃金制品鍍層成分的X射線能譜測量方法Surfacecompositionanalysismethodofgold-platedproductsbyEDX1999-04-11發布1999-12-01實施國家質量技術監督局發布

中華人民共和國國家標準黃金制品鍍層成分的X射線能譜測量方法GB/T17723-1999中中國標準出版社出版發行北京西城區復興門外三里河北街16號郵政編碼：100045電話：63787337、637874471999年7月第一版2004年11月電子版制作書號：155066·1-15976版權專有侵權必究舉報電話：（01068533533

GB/T17723-1999為了檢驗鍍金飾品的質量，許多單位都開展了鍍金飾品的無損檢測。經過許多單位多年來的實踐，采用掃描電鏡X射線能譜法對鍍金飾品進行無損檢測.證明是一種簡單易行的方法。既可以達到對鍍金飾品不造成損傷，又可檢測出鍍層成分的目的。該方法是通過掃描電鏡結合能譜分析技術的特點，使電子束能很準確地選擇需要分析的部位，并且可以很好地避開表面的粗糙面(劃道、磨痕、不平整等等)獲得較為理想的結果。更為重要的是應用改變掃描電鏡的加速電壓使人射電子具有不同能量，而使它進人樣品的不同表面深度。這樣可以發現在不同深度范圍內元素是否有變化.并且也可以說明在基體上金或金合金鍍層大致有多厚。本標準規定了應用掃描電鏡X射線能譜儀（包括裝有X射線能譜儀的電子探針儀）對鍍金制品表面金及金合金單層均勻鍍層成分的非破壞性分析測量方法的技術要求和規范本標準的附錄A是提示的附錄。本標準由全國微束分析標準化技術委員會提出并負責技術歸口本標準由北京有色金屬研究總院、核工業總公司北京地質研究院、北京鋼鐵研究總院共同負責起本標準主要起草人：劉安生、張宜、毛允靜、

中華人民共和國國家標準黃金制品鍍層成分的X射線能譜測量方法GB/T17723-1999Surfacecompositionanalysismethodofgold-platedproductsbyEDx1范圍本標準規定了應用掃描電鏡×射線能譜儀(包括裝有X射線能譜儀的電子探針儀)對鍍金制品表面金及金合金單層均勻鍍層成分的非破壞性分析測量方法。本標準適用于表面鍍金及金合金，其鍍層厚度為0.2m以上.3m以下范圍內的成分測量(不包括基體和金鍍層材料相近的鍍層成分的測量)。2引用標準下列標準所包含的條文.通過在本標準中引用而構成為本標準的條文。本標準出版時，所示版本均為有效。所有標準都會被修訂，使用本標準的各方應探討使用下列標準最新版本的可能性，GB/T15075—1994電子探針分析儀的檢測方法GB/T17359—1998電子探針和掃描電鏡定量X射線能譜定量分析方法通則GB/T17362-1998黃金飾品的掃描電鏡X射線能譜分析方法術語3.1金鍍層采用電鍍或化學鍍等加工方法得到的金或金合金的覆蓋層·稱為金鍍層3.2電子穿透深度當具有一定能量的入射電子與樣品相互作用，其能量逐漸損失，當能量達到零時,人射電子在樣品表面下所達到的深度，稱為電子穿透深度。4方法原理通過改變掃描電鏡的工作電壓·來改變入射電子的穿透深皮,從而獲得不同深度內元素存在的信息。在相同的實驗條件下.測量鍍層中存在元素和相應的標準樣品中同種元素的特征X射線·經對比、修正后求出鍍層內相應于電子穿透深度范圍內的元素的定量分析結果。5實驗儀器設備及材料5.1帶有X射線能譜