標準解讀

GB/T 14849.5-2010是一項中國國家標準，專注于工業硅化學分析領域，特別是針對元素含量的測定方法。本標準詳細規定了使用X射線熒光光譜法(XRF)來測定工業硅中各種元素含量的具體操作步驟、技術要求和質量控制措施。以下是該標準的主要內容概覽：

標準適用范圍

該標準適用于測定工業硅材料中特定元素的含量，這些元素通常包括但不限于硅、鋁、鐵、鈣、鎂、硼、磷、碳等。通過X射線熒光光譜技術，能夠在不破壞樣品的前提下，快速準確地獲取樣品中各元素的定量信息。

基本原理

X射線熒光光譜法基于當樣品被初級X射線照射時，樣品中的原子會吸收能量并躍遷到高能級，隨后返回低能級時釋放出二次X射線熒光，其能量特征與樣品中元素種類相對應。通過檢測這些熒光的能量和強度，可以定量分析出樣品中各元素的含量。

試驗條件與設備

  • 樣品制備：標準要求樣品需經過研磨、混合均勻后，制成適宜形狀和尺寸的壓片或采用熔融法制備成玻璃片，以確保測試的均勻性和代表性。
  • 儀器要求：使用X射線熒光光譜儀進行測量，儀器需要定期校準，確保測量準確性。
  • 測量參數：詳細規定了測量時的管電壓、管電流、測量時間等關鍵參數的選擇與設定。

分析步驟

  1. 樣品準備：按照標準規定的程序制備樣品。
  2. 儀器校準：使用標準參考物質進行儀器校正，確保測量結果的準確度和精密度。
  3. 測定與記錄：對樣品進行X射線照射，收集熒光數據，并記錄各元素的特征峰強度。
  4. 數據處理：依據校正曲線或內標法等進行數據分析，計算出各元素的含量。

質量控制

  • 重復性與再現性：標準給出了重復測定的允許偏差范圍，確保不同實驗室間結果的一致性。
  • 空白與對照試驗：要求進行空白試驗和標準樣品分析，用以評估和校正背景干擾及系統誤差。

報告要求

測定結果需詳細報告，包括所測元素名稱、含量、使用的單位以及必要的實驗條件說明等。

注意事項

雖然未直接使用“解讀”一詞，但以上內容概括了該標準的核心內容和實施要點，旨在幫助理解如何利用X射線熒光光譜法對工業硅中的元素含量進行準確測定。


如需獲取更多詳盡信息，請直接參考下方經官方授權發布的權威標準文檔。

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  • 被代替
  • 已被新標準代替，建議下載現行標準GB/T 14849.5-2014
  • 2011-01-14 頒布
  • 2011-11-01 實施
?正版授權
GB/T 14849.5-2010工業硅化學分析方法第5部分：元素含量的測定X射線熒光光譜法_第1頁
GB/T 14849.5-2010工業硅化學分析方法第5部分：元素含量的測定X射線熒光光譜法_第2頁
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GB/T 14849.5-2010工業硅化學分析方法第5部分：元素含量的測定X射線熒光光譜法-免費下載試讀頁

文檔簡介

ICS7712010

H12..

中華人民共和國國家標準

GB/T148495—2010

.

工業硅化學分析方法

第5部分元素含量的測定

:

X射線熒光光譜法

Chemicalanalysisofslionmetal—

Part5Determinationofelementscontent—

:

AnalysisusinganX-rayfluorescencemethod

2011-01-14發布2011-11-01實施

中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局發布

中國國家標準化管理委員會

GB/T148495—2010

.

前言

工業硅化學分析方法分為五個部分

GB/T14849—2010《》:

第部分鐵含量的測定

———1:;

第部分鋁含量的測定

———2:;

第部分鈣含量的測定

———3:;

第部分測定元素含量

———4:ICP-AES;

第部分元素含量的測定射線熒光光譜法

———5:X。

本部分為的第部分

GB/T148495。

本部分按照給出的規則起草

GB/T1.1—2009。

本標準由全國有色金屬標準化技術委員會歸口

(SAC/TC243)。

本標準負責起草單位中國鋁業股份有限公司山東分公司

:。

本標準參加起草單位山東南山鋁業股份有限公司中國鋁業股份有限公司連城分公司

:、。

本標準主要起草人尚愛平鄭全麗宗麗華王玉琴王振才臧鳳美劉楊軍陳泓鈞邵靜

:、、、、、、、、。

Ⅰ

GB/T148495—2010

.

工業硅化學分析方法

第5部分元素含量的測定

:

X射線熒光光譜法

1范圍

本標準規定了工業硅中含量的測定方法

Fe、Al、Ca。

本方法適用于工業硅中含量的測定測定范圍見表

Fe、Al、Ca,1。

表1

元素質量分數

/%

Fe0.050~1.500

Al0.050~1.000

Ca0.010~1.000

2方法原理

射線熒光光譜法是通過化學元素二次激發所發射的射線譜線的波長和強度測量來進行定性

XX

和定量分析由光管發生的初級射線束照射在試樣上試樣內各化學元素被激發出各自的二次特征

。X,

輻射這種二次射線通過準直器到達分光晶體只有滿足衍射條件的某個特定波長的輻射在出射晶體

,。

時得到加強而其他波長的輻射被削弱

,。

該方法根據定理即公式

Bragg,(1):

nλ=dθ

2·sin…………(1)

式中

:

n衍射級數

———;

λ入射光束特征輻射的波長單位為納米

———(),(nm);

d晶體面間距單位為厘米

———,(cm);

θ入射光與晶面間的夾角單位為度

———,(°)。

在定量分析時首先測量系列標準樣品的分析線強度繪制強度對濃度的校準曲線并進行必要的

,,,

基體效應的數學校正然后根據分析試樣中元素譜線的強度求出元素含量

,。

3儀器和材料

31波長色散型射線熒光光譜儀靶光管

.

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