標準解讀

《GB/T 4377-2018 半導體集成電路 電壓調整器測試方法》相較于《GB/T 4377-1996 半導體集成電路 電壓調整器測試方法的基本原理》,在內容上進行了多方面的更新和改進。新版本的標準更加注重與國際標準接軌,同時結合了近年來半導體技術的發展趨勢,對測試條件、測試項目以及測試方法等做了更詳細的規范。

具體來看,《GB/T 4377-2018》增加了對于不同工作模式下電壓調整器性能參數的測試要求,比如靜態電流、負載調節能力等方面的測試變得更加嚴格;此外,還引入了更多關于環境因素影響下的穩定性測試,包括溫度變化、濕度等因素對器件性能的影響評估;另外,新版標準中還特別強調了安全性方面的考量,在原有基礎上增加了短路保護功能的驗證等內容;同時,為了保證測試結果的一致性和可比性,《GB/T 4377-2018》也對測試設備的技術指標提出了更高的要求,并且給出了更為詳盡的操作指南來指導實際測試過程。


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....

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  • 2018-03-15 頒布
  • 2018-08-01 實施
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文檔簡介

ICS31200

L56.

中華人民共和國國家標準

GB/T4377—2018

代替

GB/T4377—1996

半導體集成電路

電壓調整器測試方法

Semiconductorintegratedcircuits—

Measuringmethodofvoltageregulators

2018-03-15發布2018-08-01實施

中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局發布

中國國家標準化管理委員會

GB/T4377—2018

目次

前言

…………………………Ⅰ

范圍

1………………………1

術語和定義

2………………1

總則

3………………………3

測試環境要求

3.1………………………3

測試注意事項

3.2………………………3

測試儀器和設備

3.3……………………3

參數測試

4…………………3

電壓調整率S

4.1(V)……………………3

電流調整率S

4.2(I)……………………5

電源紋波抑制比S

4.3(rip)………………6

輸出電壓溫度系數S

4.4(T)……………7

輸出電壓長期穩定性S

4.5(t)…………8

輸出噪聲電壓V

4.6(NO)…………………9

耗散電流I和耗散電流變化I

4.7(D)(ΔD)……………10

短路電流I

4.8(OS)……………………11

輸出阻抗Z

4.9(O)……………………12

基準電壓V

4.10(REF)…………………13

啟動時間t

4.11(S)……………………14

最小輸入輸出電壓差V

4.12(DROP)……………………15

輸入電壓變化瞬態響應時間t和輸入電壓變化瞬態過沖電壓V

4.13(1)[OM(VI)]…16

負載電流變化瞬態響應時間t和負載電流變化瞬態過沖電壓V

4.14(2)[OM(IO)]…17

輸出電流限制I

4.15(Limit)……………18

熱關斷溫度T和滯回溫度T

4.16(SHDN)(ΔSHDN)………19

輸出電壓V和輸出電壓偏差V

4.17(O)(ΔO)…………20

熱調整率S

4.18(h)……………………21

GB/T4377—2018

前言

本標準按照給出的規則起草

GB/T1.1—2009。

本標準代替半導體集成電路電壓調整器測試方法的基本原理與

GB/T4377—1996《》,GB/T4377—

相比主要技術變化如下

1996,:

修改了電源紋波抑制比S輸出噪聲電壓V耗散電流I和耗散電流變化I熱調整率

———rip、NO、DΔD、

S項參數測試方法

h4;

刪除了原標準中不適用于雙端輸入口器件一句

———“()”;

刪除了原標準中啟動電壓范圍V一項改由啟動時間t來代替

———“OR”,“S”;

增加了啟動時間t輸出電流限制I熱關斷溫度T和滯回溫度T及輸出電壓V

———S、Limit、SHDNΔSHDNO

和輸出電壓偏差V項參數的測試方法

ΔO4。

請注意本文件的某些內容可能涉及專利本文件的發布機構不承擔識別這些專利的責任

。。

本標準由中華人民共和國工業和信息化部提出

本標準由全國半導體器件標準化技術委員會歸口

(SAC/TC78)。

本標準起草單位圣邦微電子北京股份有限公司中國航天科技集團公司第九研究院第七七一研

:()、

究所成都振芯科技股份有限公司北京宇翔電子有限公司

、、。

本標準主要起草人王鴻儒袁瑩瑩鄒臣朱華張寶華張冰陳志培羅彬

:、、、、、、、。

GB/T4377—2018

半導體集成電路

電壓調整器測試方法

1范圍

本標準規定了電壓調整器以下稱為器件參數測試方法

()。

本標準適用于半導體集成電路領域中電壓調整器參數的測試

2術語和定義

下列術語和定義適用于本文件

21

.

電壓調整率voltageregulation

輸出電壓隨輸入電壓變化而發生的變化率通常通過改變直流輸入電壓并測量相應的輸出電壓變

,

化來確定電壓調整率

22

.

電流調整率currentregulation

輸出電壓隨輸出電流變化而發生的變化率通常通過改變直流輸出電流并測量相應的直流輸出電

,

壓變化來確定電流調整率

23

.

電源紋波抑制比powersupplyrejectionratio

輸入電源變化量與輸出電壓變化量的比值

24

.

輸出電壓溫度系數outputvoltagetemperaturecoefficient

輸出電壓隨環境溫度變化而發生的變化率通常通過改變環境溫度和記錄相應的輸出電壓變化來

,

確定輸出電壓的溫度系數

25

.

輸出電壓長期穩定性outputvoltagestability

輸出電壓隨時間的變化率通過測試輸出電壓值隨時間的變化來確定

,。

26

.

輸出噪聲電壓outputvoltagenoise

器件本身在輸出電壓上產生的噪聲

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