標準解讀

GB/T 19267.6-2003是一項中國國家標準，專注于刑事技術領域中微量物證的理化檢驗方法，特別是介紹了使用掃描電子顯微鏡（SEM）進行檢驗的具體規范。本標準是該系列標準的第六部分，旨在為刑事偵查和法庭科學提供詳細的操作指導和技術要求，以確保檢驗結果的準確性和可重復性。

標準內容概覽：

  1. 范圍：明確了本部分標準的應用范圍，即規定了利用掃描電子顯微鏡對微量物證進行形貌觀察、成分分析（配合能譜儀等附件）的技術方法和程序，適用于纖維、粉末、微小痕跡等各類微量物證的檢驗。

  2. 術語和定義：定義了在標準中使用的專業術語，確保讀者對相關概念有統一的理解，如掃描電子顯微鏡、二次電子像、背散射電子像等。

  3. 原理：闡述了掃描電子顯微鏡工作的基本物理原理，包括電子束與樣品相互作用產生的信號（如二次電子、背散射電子）及其在微觀形貌和成分分析中的應用。

  4. 儀器設備：詳細描述了進行SEM檢驗所需儀器的性能要求、校準方法及日常維護要點，確保檢驗設備的準確性和穩定性。

  5. 樣品制備：規范了不同類型微量物證的取樣、固定、干燥、鍍膜等預處理步驟，這些步驟對于獲得高質量的圖像和分析結果至關重要。

  6. 檢驗操作：提供了詳細的檢驗流程和操作指南，包括如何設置合適的實驗參數（如加速電壓、工作距離）、獲取和分析圖像數據、以及如何利用能譜分析進行元素識別。

  7. 結果表述與解釋：指導如何記錄、分析和報告檢驗結果，強調了結果的客觀性、準確性和可追溯性，以及如何將檢驗發現與案件事實相結合進行合理解釋。

  8. 質量控制：提出了實施質量控制的措施，如定期校驗儀器、使用標準物質進行比對試驗，以保證檢驗結果的可靠性和實驗室間的一致性。

  9. 安全與防護：強調了在SEM操作過程中應遵循的安全規范和防護措施，保護操作人員免受輻射傷害及化學試劑的危害。


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  • 被代替
  • 已被新標準代替，建議下載現行標準GB/T 19267.6-2008
  • 2003-08-19 頒布
  • 2004-01-01 實施
?正版授權
GB/T 19267.6-2003刑事技術微量物證的理化檢驗第6部分：掃描電子顯微鏡法_第1頁
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文檔簡介

ICS13.310A92中華人民共和國國家標準GB/T：19267.6—2003刑事技術微量物證的理化檢驗第6部分：掃描電子顯微鏡法Physicalandchemicalexaminationoftraceevidenceinforensicsciences-Part6:Scanningelectronmicroscopy2003-08-19發布2004-01-01實施中華人民共和國發布國家質量監督檢驗檢疫總局

GB/T19267.6-2003公GB/T19267《刑事技術微量物證的理化檢驗》分為12個部分：-第1部分：紅外吸收光譜法；-第2部分：紫外-可見吸收光譜法；-第3部分：分子熒光光譜法；第第4部分：原子發射光譜法；第5部分：原子吸收光譜法;第第6部分：掃描電子顯微鏡法；第7部分：氣相色譜-質譜法;第8部分：顯微分光光度法;第9部分：薄層色譜法：第10部分：氣相色譜法；第11部分：高效液相色譜法：第第12部分：熱分析法。本部分為GB/T19267第6部分本部分由全國刑事技術標準化技術委員會(CSBTS/TC179)提出并歸口本部分的起草單位：上海市公安局刑事科學研究所、公安部物證鑒定中心。本部分起草人：邵致遠、梁魯寧。

GB/T19267.6—2003刑事技術微量物證的理化檢驗第6部分：掃描電子顯微鏡法1范圍本部分規定了掃描電鏡的檢驗方法。本部分適用于刑事技術領域中微量物證的理化檢驗.其他領域亦可參照使用規范性引用文件下列文件中的條款通過GB/T19267的本部分的引用而成為本部分的條款。，凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括誤的內容)或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵根據本部分達成協議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件.其最新版本適用于本部分。GB/T13966-1992分析儀器術語術語和定義GB/T13966中確立的以及下列術語和定義適用于本部分3掃描電鏡scanningelectronmicroscope(SEM)在掃描線圈的磁場作用下.由電子槍發射的電子束在樣品表面按一定的時間、空間順序作光柵掃描（也稱逐點掃描).由探測器接收樣品中激發的二次電子等信號.再經光電轉換在熒光屏上觀察到反映樣品表面形貌的電子圖的方法、32能譜法energydispersivespectrometry(EDS)用具有一定能量和強度的粒子束轟擊試樣物質，根據試樣物質被激發的粒子能量和強度，或被試樣物質反射的粒子能量和強度的關系圖(稱為能譜)實現對試樣的非破壞性元素分析、結構分析和表面物化特性分析的方法33掃描電鏡能譜法SEM-EDS微束電子轟擊試樣,激發試樣微區的各元素特征X射線，探測系統顯示出該微區各元素特征的X射線能量和強度的關系圖(稱能譜)以及它們在試樣表面的分布圖3.4二次電子secondaryelectrons這是樣品中原子的外層電子受入射電子的激發而發射到樣品以外的非彈性散射電子。。通常它的能量較低，而且它的產生區域較小3.5二次電子成像secondaryelectronimage

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