GB/T 18500.1-2001半導體器件集成電路第4部分：接口集成電路第一篇：線性數字/模擬轉換器(DAC)空白詳細規范

ICS31.200L56中華人民共和國國家標準GB/T18500.1一2001idtIec748-4-1:1993QC790303半導體器件集成電路第4部分:接口集成電路第一篇;線性數字/模擬轉換器(DAC)空白詳細規范Semiconductordevices--IntegratedcircuitsPartA：InterfaceintegratedcircuitsSection1:Blankdetailspecificationforiineardigital-to-analogueconverters：CDAC）2001-11-05發布2002-06-01實施中華：人民共和.發布國家質量監督檢驗檢疫總局

GB/T18500.1-2001本標準等同采用國際電工委員會(IEC)標準IEC748-4-1:1993《半導體器件集成電路第4部分：接口集成電路第一篇:線性數字/模擬轉換器(DAC)空白詳細規范》.以促進我國該類產品的國際貿易、技術和經濟交流。本標準可作為編制線性DAC詳細規范的依據本標準引用了下列標準：GB/T4937—1995半導體器件機械和氣候試驗方法(idtIEC749:1984)GB/T16464—1996半導體器件集成電路第1部分：總則(idtIEC748-1:1984)GB/T17573—1998半導體器件→分立器件和集成電路第1部分：總則(idtIEC747-1:1983)IEC68-2-17:1978環境試驗第2部分：試驗——試驗Q密封修改單4（1991)IEC747-10:1991半導體器件第10部分：分立器件和集成電路總規范IEC748-4:1987半導體器件集成電路第4部分：接口集成電路修改單1(1991)IEC748-11:1990半導體器件集成電路第11部分：半導體集成電路(不包括混合電路)分規范TEC748-11-1:19922半導體器件集成電路第11部分：半導體集成電路（不包括混合電路)內部目檢IECQC001002:19861EC電子元器件質量評定體系(IECQ）程序規則修改單1（1992）IC748-4-1中極限值表分為兩個部分,為了與已發布的空白詳細規范一致，本標準將其合成個表。本標準由中華人民共和國信息產業部提出。本標準由全國集成電路標準化分技術委員會歸口。本標準起草單位：信息產業部電子工業標準化研究所本標準主要起草人：陳燴理、李燕榮。

GB/T18500.1-2001IEC前音1）IEC(國際電工委員會)是由各個國家電工委員會(IEC國家委員會)組成的世界性的標準化組織.IEC的目的是促進電工電子領域標準化問題的國際合作。為此目的，除其他活動外.IEC發布國際標準。國際標準的制定由技術委員會承擔，對所涉及內容關切的任何IEC國家委員會均可參加國際標準的制定工作。與IEC有聯系的任何國際、政府及非官方組織也可以參加國際標準的制定。IEC與國際標準化組織(ISO)根據兩組織間協商確定的條件保持密切的合作關系。2）IEC在技術問題上的正式決議或協議,是由對這些問題特別關切的國家委員會參加的技術委員會制定的，對所涉及的問題盡可能地代表了國際上的一致意見。3）這些決議或協議以標準、技術報告或導則的形式發布，以推薦的形式供國際上使用，并在此意義上·為各國家委員會所認可。4）為了促進國際上的統一,各IEC國家委員會應有責任使其國家和地區標準盡可能采用IEC標準。IEC標準與相應國家或地區標準之間的任何差異應在國家或地區標準中指明。5）IEC未規定使用認可標志的任何程序。當宜稱某一產品符合相應的IEC標準時.IEC概不負責本標準IEC748-4-1由IEC/TC47(半導體器件)的SC47A(集成電路)制定本標準是IEC電子元器件質量評定體系(IECQ)范圍內的線性數字/模擬轉換器(DAC)空白詳細規范。本標準文本以下列文件為依據：DIS表決報告47A（CO）26747A（CO)281表決批準本標準的詳細資料可在上表列出的表決報告中查閱。在本標準封面的QC編號是IEC電子元器件質量評定體系(IECQ）的規范號本標準引用下列IEC標準：TEC68-2-17:1978環境試驗第2部分：試驗-試驗Q密封修改單4（1991)IEC747-1:1983半導體器件分立器件和集成電路第1部分：總則IEC747-10:1991半導體器件第10部分：分立器件和集成電路總規范IEC748-1:1984半導體器件集成電路第1部分:總則修改單1(1991)IEC748-4:1987半導體器件集成電路第4部分：接口集成電路修改單1(1991)IEC748-11:1990）半導體器件集成電路第11部分：半導體集成電路(不包括混合電路)分規范TEC748-11-1:1992半導體器件集成電路第11部分：半導體集成電路(不包括混合電路)內部目檢IEC749:1984半導體器件機械和氣候試驗方法修改單1（1991)IECQC001002:1986IEC電子元器件質量評定體系（IECQ）程序規則修改單1（1992）

中華人民共和國國家標準半導體器件集成電路第4部分：接口集成電路第一篇：線性數字/模擬轉換器(DAC)CB/T18500.1一2001idtTC7484-1:1998空白詳細規范QC790303Semiconductordevices-IntegratedcircuitsPart4:InterfaceintegratedcircuitsSection1:Blankdetailspecificationforlineardigital-to-analogueconverters（DAC)引IEC電子元器件質量評定體系遵循IEC的章程并在IEC授權下進行工作。該體系的目的是確定質量評定程序.以這種方式使一個參加國按有關規范要求放行的電子元器件無需進一步試驗而為其所有參加國同樣接受。本空白詳細規范是半導體器件的一系列空白詳細規范之一.并且與下列IEC標準一起使用IEC747-10/QC700000半導體器件第10部分：分立器件和集成電路總規范半導體器件：集成電路第11部分：半導體集成電路(不包括混合電路)分規范要求的資料本頁和后面方括號內的數字與下列各項要求的資料相對應.這些資料應填人相應的欄中詳細規范的識別授權發布詳細規范的國家標準化機構名稱詳細規范的IECQ編號。C31總規范、分規范的編號及版本號L47詳細規范的國家編號、發布日期及國家標準體系要求的其他資料器件的識別151主要功能和型號。L67典型結構(材料、主要工藝)和封裝資