GB/T 18310.14-2003纖維光學互連器件和無源器件基本試驗和測量程序第2-14部分：試驗最大輸入功率

ICS33.180.20L50中華人民共和國國家標準GB/T18310.14-2003/IEC61300-2-14：1997纖維光學互連器件和無源器件基本試驗和測量程序第2-14部分:試驗最大輸入功率Eibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents-Basictestandmeasurementprocedures-Part2-14：Tests-Maximuminputpower（IEC61300-2-14:1997,IDT)2003-11-24發布2004-08-01實施中華人民共和國發布國家質量監督檢驗檢疫總局

GB/T18310.14-2003/IEC61300-2-14:1997本部分為GB/T18310的第14部分，并求屬于GB/T18309.1-2001/IEC61300-1:1995《纖維光學互連器件和無源器件基本試驗和測量程序第1部分：總則和導則》。本部分等同采用IEC61300-2-14:1997《纖維光學互連器件和無源器件基本試驗和測量程序第2-14部分：試驗最大輸入功率》英文版）為便于使用·對于IEC61300-2-14:1997還作了下列編輯性修改：刪除1EC61300-2-14:1997的前言。《纖維光學互連器件和無源器件基本試驗和測量程序》是系列國家標準，下面列出了這些國家標淮的預計結構及其對應的IEC標準：a）GB/T18309.1—2001《纖維光學互連器件和無源器件基本試驗和測量程序第1部分：總則和導則》idtIEC61300-1:1995）。GB/T18310《纖維光學互連器件和無源器件基本試驗和測量程序第2部分：試驗》GB/T18310.1-2002《纖維光學互連器件和無源器件：基本試驗和測量程序第2-1部分：試驗振動(正弦)》IEC61300-2-1:1995.IDT)GB/T18310.2-2001《纖維光學互連器件和無源器件基本試驗和測量程序第2-2部分：試驗配接耐久性》idtIEC61300-2-2:1995)GB/T18310.3-2001《纖維光學互連器件和無源器件基本試驗和測量程序第2-3部分:試驗靜態剪切力》(idtIEC61300-2-3:1995）GB/T18310.4-2001《纖維光學互連器件和無源器件基本試驗和測量程序第2-4部分：試驗光纖/光纜保持力》idtIEC61300-2-4:1995)C）GB/T18311《纖維光學互連器件和無源器件基本試驗和測量程序第3部分;檢查和測量》-GB/T18311.1—2003《纖維光學互連器件和無源器件基本試驗和測量程序第3-1部分：檢查和測量外觀檢查》IEC61300-3-1:1995.IDT)-GB/T18311.2—2001《纖維光學互連器件和無源器件基本試驗和測量程序第3-2部分：檢查和測量單模纖維光學器件偏振依賴性》(idtIEC61300-3-2:1995）-GB/T18311.3—2001《纖維光學互連器件和無源器件基本試驗和測量程序第3-3部分：檢查和測量監監測衰減和回波損耗變化（多路)》（idtIEC61300-3-3:1997）-2003《纖維光學互連器件和無源器件GB/T18311.4—基本試驗和測量程序第3-4部分：檢查和測量衰減》IEC61300-3-4:2001.IDT)本部分由中華人民共和國信息產業部提出。本部分由中國電子技術標準化研究所（CESI歸口本部分起草單位：中國電子科技集團公司第八研究所本部分主要起草人：王強、王毅、商海英

GB/T18310.14-2003/IEC61300-2-14:1997纖維光學互連器件和無源器件基本試驗和測量程序第2-14部分:試驗最大輸入功率總則范圍和目的本部分目的是評定纖維光學器件在非線性光效應未導致其永久性損傷或暫時性的性能下降的情況下，能夠達到的光功率傳輸水平。1.2規范性引用文件下列文件中的條款通過GB/T18310的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件.其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內容)或修訂版均不適用于本部分.然而，鼓勵根據本部分達成協議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件.其最新版本適用于本部分。GB7247.1-2001激光產品的安全：第1部分：設備分類、要求和用戶指南(idtIEC60825-1:1993）GB/T18309.1-2001纖維光學互連器件和無源器件：基本試驗和測量程序第1部分：總則和導則(idtIEC61300-1:1995)2概述纖維光學器件中強光功率導致的光學損傷有多種形式和等級，光學損傷可能由于暴露在強光照下而突然發生、或由于長時間通光引起光學器件的某些材料化學變化而導致失效。由光功率所引起器件不同程度失效的因素包括：通通過光學器件光波導的平均和峰值功率密度，引起局部發熱而導致器件失效；峰值功率,它可能由高功率密度合成而引起的自聚焦效應；材料的光吸收效應(衰減)在包含光衰減層的光學元件中,光能可被局部區域吸收，并產生熱而導致潛在的光損傷；-材料污染，當暴露在強光照下，在器件的光學表面、或在器件的光路徑上嵌入的光吸收材料微粒可能導致局部發熱：非線性光效應，強光相干性組合和充分傳導的光路可能引起非線性光效應產生·如在實際的傳輸系統中由比較適度的光功率水平(毫瓦級)可能產生受激布里淵散射引起的非線性光效應。該效應能導致性能暫時降低或導致器件永久的損傷,例如借助于高