GB/T 17421.4-2003機床檢驗通則第4部分：數控機床的圓檢驗

ICS25.040.20j50中華人民共和國國家標準GB/T17421.4-2003/ISO230-4:1996機床檢驗通則第4部分：數控機床的圓檢驗Testcodeformachinetools-Part4：Circulartestsfornumericallycontrolledmachinetools(ISO230-4:1996,IDT)2003-11-10發布2004-06-01實施中華人民共和國發布國家質量監督檢驗檢疫總局

GB/T17421.4-2003/ISO230-4:1996二前言范圍2規范性引用文件3術語和定義4檢驗條件4.1環境4.2被檢機床4.3溫升……………4.4檢驗參數4.5檢驗工具的標定5檢驗方法6，結果的表達7供方/制造廠和用戶之間的協商要點附錄A（資料性附錄）圓偏差G和半徑偏差F的區別附錄B(資料性附錄）典型的機床偏差對圓軌跡的影響B.1概述·………………B.2幾何偏差的影響·B.2.1累積直線定位偏差的影響B.2.2軸線不垂直的影響B.2.3周期偏差的影響B.3數控及其驅動裝置的影響10B.3.1反向誤差及其補償的影響B.3.2軸線加速度的影響B.3.3不同跟蹤誤差的影響(位置環增益誤差)附錄（（資料性附錄）直徑和輪廊進給率的修正1A參考文獻

GB/T17421.4一2003/IS0230-4:1996前GB/T17421《機床檢驗通則》分為如下幾個部分第1部分：在無負荷或精加工條件下機床的幾何精度：-第2部分：數控軸線的定位精度和重復定位精度的確定：第第3部分：熱效應的評定；第第4部分：數控機床的圓檢驗：第5部分：噪聲輻射的評定：第6部分：對角線位移檢驗本部分為GB/T17421的第4部分，等同ISO230-4:1996《機床檢驗通則第4部分：數控機床的圓檢驗》英文版)。為便于使用,對于ISO230-4:1996(英文版),本部分還做了下列編輯性修改：-按照GB/T1.1-2000的規定進行了編寫。增加了"目次”和“前言"；“規范性引用文件”一章所列國家標準的名稱后面標識了相應國際標準編號、一致性程度代號；原原國際標準中"參考文獻"為資料性附錄D.按照GB/T1.1的規定改為附錄A、附錄B、附錄C后的一個要素；刪除了ISO230-4：1996的前言；-將一些適用于國際標準的表述改為適用于我國標準的表述。本部分的附錄A、附錄B、附錄C為資料性附錄。本部分由中國機械工業聯合會提出。本部分由全國金屬切削機床標準化技術委員會(SAC/TC22)歸口本部分起草單位：北京機床研究所。本部分主要起草人：徐光武、李祥文。

GB/T17421.4一2003/IS0230-4:1996機床檢驗通則第4部分：數控機床的圓檢驗范圍GB/T17421的本部分規定了兩線性軸線聯動所產生的圓形軌跡的圓漸后、圓偏差及半徑偏差的檢驗和評定方法。有關的檢驗工具見GB/T17421.1—1998中的6.6.3說明本部分的目的是提供一種檢驗數控機床輪席特性的方法。2規范性引用文件下列文件中的條款通過（B/T17421的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內容)或修訂版均不適用于本部分.然而鼓勵根據本部分達成協議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本部分。GB/T17421.1-1998機床檢驗通則第1部分：在無負荷或精加工條件下機床的幾何精度（eqvISO230-1:1996）3術語和定義下列術語和定義適用于GB/T17421的本部分31名義軌跡nominalpath數控編程的圓形軌跡，它由直徑(或半徑)、圓心的位置及在機床工作區的方向來定義，既可以是個整圓也可以是一個不小于90°的部分圓。3.2實際軌跡actualpath按編程的名義軌跡運動時機床產生的軌跡3.3圓浠后HcircularhystercsisH兩實際軌跡的最大半徑差·其中一個軌跡是順時針輪廊運動.另一個是逆時針輪廊運動(見圖1).注：評定基準是兩個